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溫度沖擊試驗箱設(shè)備用途
溫度沖擊試驗箱適用于考核各種產(chǎn)品零部件和材料及家用電器、儀器、儀表、元器件、電子、電工及汽車、航空、手機通訊、摩托車、塑膠、機械、五金工具在高溫、低溫瞬間轉(zhuǎn)化環(huán)境條件下的適應(yīng)性試驗，溫度沖擊試驗箱可供各種科研機構(gòu)及企事業(yè)單位試驗室做可靠性及耐久性試驗。
溫度沖擊試驗箱箱體結(jié)構(gòu)特點
控制器(controller)
冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)
型號規(guī)格Model and specification
經(jīng)國家環(huán)境試驗設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督檢測中心檢測，符合“環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)條件”系列國家標(biāo)準(zhǔn)中的：
GB/T2423.1—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.4—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗Db：溫度變化試驗方法
GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
GJB150.3 (MIL-STD-810D)高溫試驗方法
GJB150.4（MIL-STD-810D)低溫試驗方法
GB/T10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
