深冷試驗(yàn)箱能夠模擬各種溫濕度環(huán)境和惡劣氣候，主要用來(lái)測(cè)試式樣在擬定環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性能，將提供有力數(shù)據(jù)給被測(cè)式樣加以品質(zhì)改進(jìn)。廣泛應(yīng)用于國(guó)防、電工電子、信息通訊、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件、科研院所等領(lǐng)域。

二、產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 摒棄了傳統(tǒng)的液氮制冷方式，采用全封閉壓縮機(jī)制冷方式；
• 突破了-75℃的低溫瓶頸，達(dá)到了超低溫試驗(yàn)水平的新高度；
• 采用*的平衡調(diào)溫方式，溫控精度高，穩(wěn)定速度快；
• 制冷回路可實(shí)現(xiàn)壓縮機(jī)自動(dòng)開(kāi)閉和輸出功率的自動(dòng)調(diào)整功能；
• 觸摸屏控制，外觀簡(jiǎn)潔大方，界面友好，操作方便；
• 可選配彩色液晶觸摸式屏或日本RKC等控制儀表。

三、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008（IEC60068-2-1） 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)
GB/T2423.2-2008（IEC60068-2-2） 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)
GB/T2424.1-2015（IEC60068-3-1） 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分：支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗(yàn)
GB/T5170.2-2008 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢定方法標(biāo)準(zhǔn) 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GJB150.3A-2009（MIL-STD-810D） 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009（MIL-STD-810D） 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

四、技術(shù)規(guī)格參數(shù)：

*1 以上數(shù)據(jù)是在環(huán)境溫度23℃，空載條件測(cè)得；
*2 低溫-90℃、-100℃、-120℃可選擇；
*3 150℃為備選型號(hào)，標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品高溫至100℃；
*4 冷卻方式如選用水冷，請(qǐng)事先提出。

深冷試驗(yàn)箱