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8XB正置（明暗場）芯片檢查顯微鏡

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更新時間：2023-07-01 12:30:27瀏覽次數(shù)：333次

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沈陽科晶自動化設備有限公司

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產品簡介

8XB正置（明暗場）芯片檢查顯微鏡

詳細介紹

產品簡介：8XB正置（明暗場）芯片檢查顯微鏡廣泛應用于透明、半透明、不透明物質（如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層）等材料表面的結構、痕跡檢測，擁有很好的成像效果。

產品型號	8XB正置（明暗場）芯片檢查顯微鏡
主要特點	1、采用高分辨率、長工作距離無限光路校正系統(tǒng)物鏡成像技術。 2、拓展了物鏡的復用技術，無限遠物鏡與所有觀察法相兼容，包括明暗視野法、偏光法，并在每一觀察法中均　提供高清晰的圖像質量。 3、采用非球面Kohler照明，增加觀察亮度。
技術參數(shù)	1、鏡筒：傾斜30° 2、高眼點目鏡：倍率10×，視場范圍25mm 3、無限遠長工作距離明暗場物鏡：倍率5×、10×、20×、40×，數(shù)值孔徑0.10、0.25、0.40、0.60，工作距離 29.4mm、16mm、10.6mm、5.1mm 4、物鏡轉換：五孔轉換器 5、調焦機構：粗、微動同軸調焦，微動格值0.002mm，調焦范圍36mm 6、工作臺：雙層移動平臺，尺寸311mm×352mm，移動范圍250mm×250mm 7、照明：垂直照明，12V/100W鹵素燈，帶孔徑光闌和視場光闌，亮度可調節(jié)
標準配件	1	目鏡筒	1只
	2	目鏡（10×）	1對
	3	無限遠長工作距離明暗場物鏡（5×、10×、20×、40×）	各1只
可選配件	1、12.5×目鏡 2、10×測微鏡（測微尺格值0.01mm） 3、無限遠長工作距離明暗場物鏡（40×、100×干）