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上海四科儀器設備有限公司


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上海物光顯微熔點儀SGW® X-4B(數(shù)顯)

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產(chǎn)品型號SGW® X-4B

品       牌

廠商性質其他

所  在  地

聯(lián)系方式:肖斌查看聯(lián)系方式

更新時間:2022-11-21 16:52:23瀏覽次數(shù):184次

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聯(lián)系人:肖斌

產(chǎn)品簡介

測定物質的熔點。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。。

詳細介紹

    特點:
    測定物質的熔點。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
     

    主要技術參數(shù):
    熔點測量范圍:室溫至320℃ 
    測量重復性:±1℃ (在<200℃ 時)
                           ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時) 
    溫度顯示最小值:0.1℃

    熔點觀察方式 單目顯微鏡

    光學放大倍數(shù) 40× 

    主要技術參數(shù):
    熔點測量范圍:室溫至320℃ 
    測量重復性:±1℃ (在<200℃ 時)
                           ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時) 
    溫度顯示最小值:0.1℃

    熔點觀察方式 雙目體視顯微鏡

    光學放大倍數(shù) 連續(xù)變倍40倍-100倍

關鍵詞:顯微鏡

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