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三豐表面粗糙度儀SV-3200

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更新時間：2022-09-11 14:54:53瀏覽次數(shù)：199次

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三豐表面粗糙度儀SV-3200

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詳細信息

表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 頂級定位速度及精度實現(xiàn)了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。 通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現(xiàn)了高生產能力。 實現(xiàn)了最高級別定位速度(X軸：最大80mm/s,Z軸：最大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。 產品陣容中增加了功能強大的選件，大幅度的縮短從設置到測量、評價的總體測量時間。

三豐粗糙度儀.gif

表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 頂級定位速度及精度實現(xiàn)了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。 通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現(xiàn)了高生產能力。 實現(xiàn)了最高級別定位速度(X軸：最大80mm/s,Z軸：最大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。 產品陣容中增加了功能強大的選件，大幅度的縮短從設置到測量、評價的總體測量時間。

表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 頂級定位速度及精度實現(xiàn)了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。 通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現(xiàn)了高生產能力。 實現(xiàn)了最高級別定位速度(X軸：最大80mm/s,Z軸：最大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。 產品陣容中增加了功能強大的選件，大幅度的縮短從設置到測量、評價的總體測量時間。

三豐表面粗糙度儀SV-3200

1.評估型表面粗糙度測量儀同時配置分析功能。

2. 裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。

3.標配高分辨率的Z1軸檢出器，高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。

4.Z1軸的高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。

5. X軸驅動裝置裝配高精度玻璃光柵尺，實現(xiàn)X軸方向移動的高精準定位。SV-3200系列為驅動裝置采用陶瓷導軌以提高抗磨性，延長使用壽命。

6.X軸的分辨力為0.05μm。

7.標準或低測力檢出器(4mn/0.75mN)的選擇，無需考慮設備本體是否有裝配傾斜裝置。

8.驅動裝置中的DAT功能可以輕松調整測量工件的水平。

9.表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 定位速度及精度實現(xiàn)了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。

10.通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現(xiàn)了高生產能力。 實現(xiàn)了高別定位速度(X軸：大80mm/s,Z軸：大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。

規(guī)格：型號：SV-3200S4 SV-3200H4 SV-3200W4 SV-3200S8 SV-3200H8 SV-3200W8



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