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光學(xué)JB - 1C 表面粗糙度測(cè)試儀

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表面粗糙度測(cè)試儀JB-1C 其他同類(lèi)產(chǎn)品儀器用接觸式方式

詳細(xì)介紹

表面粗糙度測(cè)試儀JB - 1C

其他同類(lèi)產(chǎn)品

儀器用接觸式方式，能迅速精確直觀(guān)地測(cè)量出表面粗糙度值，采用的電感式探頭，測(cè)量誤差小，重復(fù)性好，鉆石觸針經(jīng)久耐用，配置16位單片微處理器，智能化程度高，使用特別方便，能迅速讀出Ra,Ry,Rz等參數(shù)，并可根據(jù)需要打印出全部測(cè)試數(shù)據(jù)及輪廓圖形，LCD能顯示測(cè)量過(guò)程中的觸針位置，避免人為誤差。

用于計(jì)量室及生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)對(duì)工作表面粗糙度進(jìn)行高精度的測(cè)量，儀器可對(duì)零件平面、軸向母線(xiàn)表面的粗糙度進(jìn)行測(cè)試，依據(jù)GB1031-83及ISO,DIN等標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，達(dá)到同類(lèi)產(chǎn)品的水平。

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