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更新時間:2025-03-01 11:31:44瀏覽次數(shù):63次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線滿足標(biāo)準(zhǔn):滿足GB10586-2006:濕熱試驗箱技術(shù)條件GB10589-2008:低溫試驗箱技術(shù)條件性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法GB2423
滿足標(biāo)準(zhǔn):
滿足GB10586-2006:濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB10589-2008:低溫試驗箱技術(shù)條件
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)
GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的國家標(biāo)準(zhǔn)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Da:交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)
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