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Carl Zeiss 電子顯微鏡

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更新時間：2023-12-19 15:58:47瀏覽次數(shù)：195次

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產(chǎn)品簡介

關(guān)鍵字：Carl Zeiss 電子顯微鏡Crossbeam 350
關(guān)鍵字描述：
產(chǎn)品介紹：
無需耗時搜索ROI即可開始工作流程
使用氣閘上的導(dǎo)航攝像頭找到標(biāo)本
集成的用戶界面使您可以輕松導(dǎo)航到ROI

詳細(xì)介紹

天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷Carl Zeiss 電子顯微鏡Crossbeam 350
產(chǎn)品型號：Crossbeam 350
關(guān)鍵字：Carl Zeiss 電子顯微鏡Crossbeam 350
關(guān)鍵字描述：
產(chǎn)品介紹：
無需耗時搜索ROI即可開始工作流程
使用氣閘上的導(dǎo)航攝像頭找到標(biāo)本
集成的用戶界面使您可以輕松導(dǎo)航到ROI
受益于SEM中大而無失真的視野
銅樣品的薄片準(zhǔn)備好提升
通過簡單的三步流程開始準(zhǔn)備：ASP
定義配方包括漂移校正，沉積和粗銑和精磨
FIB色譜柱的離子光學(xué)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)工作流程的高通量
復(fù)制配方并根據(jù)需要重復(fù)以開始批量準(zhǔn)備
蔡司Crossbeam的TEM薄片制備工作流程的一部分
帶上顯微操縱器并將薄片連接到其
從散裝中切出薄片
然后，薄片準(zhǔn)備好提升并且可以轉(zhuǎn)移到TEM網(wǎng)格
使用Gemini電子光學(xué)從高分辨率SEM圖像中提取真實(shí)樣本信息。Ion-sculptor FIB色譜柱引入了一種新的FIB處理方式：通過大限度地減少樣品損傷，您可以大限度地提高樣品質(zhì)量并同時更快地進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。在制備TEM樣品時，使用離子雕刻機(jī)FIB的低電壓功能：獲得超薄樣品，同時保持少量的非晶化損傷。在ZEISS Crossbeam系列中，要么利用Crossbeam 350的可變壓力功能或者使用Crossbeam 550進(jìn)行苛刻的表征。
參數(shù)：
SEM：Gemini I光學(xué)，VP選項(xiàng)
腔室尺寸和端口標(biāo)準(zhǔn)：帶18個可配置端口
顯微鏡臺：100毫米行程范圍x / y
示例選項(xiàng)：Inlens SE和Inlens EsB 用于同時成像SE / EsB 成像
VPSE探測器
可變壓力功能（可選）
天津瑞利光電創(chuàng)立以來一直秉承'以誠興業(yè)，共存共榮'的經(jīng)營理念，視客戶與伙伴為摯友，視員工為公司的寶貴財(cái)富，團(tuán)結(jié)一致，開拓創(chuàng)新，勇于打破行業(yè)發(fā)展瓶頸，逐步構(gòu)建并擴(kuò)大公司在自動化領(lǐng)域的一體化供銷網(wǎng)絡(luò)與服務(wù)中心。'整合行業(yè) 資源，力爭行業(yè)好口碑，勇做行業(yè)發(fā)展引擎'將是瑞利人永遠(yuǎn)的追求，我們愿與更多的用戶和國內(nèi)外品牌供應(yīng)商攜手并進(jìn)，一起為國內(nèi)工業(yè)發(fā)展貢獻(xiàn)力量，共同發(fā)展，共同繁榮。