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X射線衍射儀（XRD）

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設(shè)備介紹X射線衍射儀UltimaIV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)，可以進(jìn)行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測(cè)試

詳細(xì)介紹

設(shè)備介紹

X射線衍射儀Ultima IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)，可以進(jìn)行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測(cè)試。不需要重新設(shè)置,適合多種樣品的各種測(cè)試。

儀器型號(hào)

日本理學(xué) UltimaIV

技術(shù)參數(shù)

光路系統(tǒng)CBO交叉光路
X-射線光管Cu靶
X-射線發(fā)生器輸出功率3000W
測(cè)角儀水平測(cè)角儀，最小步進(jìn)為1/10000度
旋轉(zhuǎn)光管在線焦斑和點(diǎn)焦斑應(yīng)用之間輕松快捷地進(jìn)行免對(duì)準(zhǔn)切換

案例展示

應(yīng)用范圍

X射線衍射儀是適合測(cè)試粉末樣品、塊狀固體等，主要應(yīng)用于混合物相的定性分析；樣品的對(duì)照分析；晶體物相的半定量分析；材料晶體結(jié)構(gòu)的表征分析；結(jié)晶度分析等，面向化學(xué)、藥物、材料、農(nóng)林、化工、環(huán)境、生化、礦物、地質(zhì)、冶金、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。

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