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XDV -SDD - 高性能X射線熒光測試儀 測厚儀

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質經(jīng)銷商

所  在  地

聯(lián)系方式:浩子查看聯(lián)系方式

更新時間:2023-09-17 09:30:42瀏覽次數(shù):340次

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經(jīng)營模式:經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品:455條

所在地區(qū):山東青島市

聯(lián)系人:浩子 (網(wǎng)絡)

產(chǎn)品簡介

可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素

詳細介紹

高性能X射線熒光測試儀,粉末涂層測厚儀,配有可編程XY平臺和Z軸,油漆測厚儀,可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素


儀器特點

  • 高級型號儀器,機械式涂層測厚儀,具有常見的所有功能
  • 射線激發(fā)量的靈活性,覆層測厚儀,激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
  • 通過硅漂移探測器,非鐵基涂料涂層測厚儀,在 > 10萬cps(每秒計數(shù)率) 的超高信號量下也可以正常工作,非鐵基涂層測厚儀,而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
  • 極低的檢測下限和出色的測量重復度
  • 帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
  • 大容量便于操作的測量艙

典型應用領域

  • 測量極薄的鍍層,筆式涂層測厚儀,例如應用于電子和半導體行業(yè)中
  • 痕量分析,mpo 涂層測厚儀,例如根據(jù) RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測
  • 進行高精度的黃金和貴金屬分析
  • 光伏產(chǎn)業(yè)
  • 測量 NiP 鍍層的厚度和成分



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